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设备信息
重大仪器设备
低温探针台（温度范围4-500K，4个电学臂，2个光学臂，可在4.2-475 K温度范围内对样品的电学和光学特性进行表征。两个光学探针可导入泵浦光并收集信号光，三维调节架的操作控制精度优于百纳米）
超高精度半导体参数分析仪（电流电压范围：0.1fA-1A/0.5μV-200V，暗电流小，频率范围1kHz-5MHz交流电容测试，最低采样间隔为 5ns，可进行高速的采样和重复扫描）
§结合低温探针台、半导体参数分析仪和显微观察系统可对纳米尺度光电材料及器件的的电致发光，伏安特性及吸收特性进行测量。
